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Method of forming seed layers for the fabrication of ferroelectric thin films by MOCVD on high dielectric constant gate oxides

机译:在高介电常数栅极氧化物上通过MOCVD形成用于制造铁电薄膜的种子层的方法

摘要

A method of forming a ferroelectric thin film on a high-k layer includes preparing a silicon substrate; forming a high-k layer on the substrate; depositing a seed layer of ferroelectric material at a relatively high temperature on the high-k layer; depositing a top layer of ferroelectric material on the seed layer at a relatively low temperature; and annealing the substrate, the high-k layer and the ferroelectric layers to form a ferroelectric thin film. IMAGE
机译:在高k层上形成铁电薄膜的方法包括:制备硅衬底;以及在硅衬底上形成硅衬底。在基板上形成高k层;在较高的k层上以相对较高的温度沉积铁电材料的种子层;在相对较低的温度下在种子层上沉积铁电材料的顶层;退火衬底,高k层和铁电层以形成铁电薄膜。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号DE60210912T2

    专利类型

  • 公开/公告日2007-04-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SHARP K.K.;

    申请/专利号DE2002610912T

  • 发明设计人

    申请日2002-11-07

  • 分类号C23C16;H01L21/28;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 20:27:57

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