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Chemical vapor deposition of titanium and titanium containing films using bis (2,4-dimethylpentadienyl) titanium as a precursor

机译:以双(2,4-二甲基戊二烯基)钛为前体的化学气相沉积钛和含钛薄膜

摘要

A process is disclosed for creating highly-conformal titanium- containing films via chemical vapor deposition using bis(2,4- dimethylpentadienyl) titanium, an analog thereof, or a Lewis-base- stabilized form thereof, as a precursor. The deposition process takes place in a low-pressure chamber. A substrate within the chamber, and on which the film is to be deposited, is heated to a temperature within a range of about 300-600° C. In one embodiment of the invention, titanium precursor compound vapor is admitted to the chamber either solely or in combination with one or more carrier gases. In another embodiment, titanium precursor compound vapor in combination with one or more carrier gases and/or other vapor phase reactants are admitted to the chamber.
机译:公开了一种使用双(2,4-二甲基戊二烯基)钛,其类似物或其路易斯碱稳定形式的前驱物,通过化学气相沉积产生高度共形的含钛膜的方法。沉积过程在低压室中进行。将腔室内的,将要在其上沉积薄膜的基板加热到约300-600°C的温度。在本发明的一个实施方案中,将钛前体化合物蒸汽单独或单独地进入腔室内或与一种或多种载气组合使用。在另一个实施方案中,将钛前体化合物蒸气与一种或多种载气和/或其他气相反应物组合进入腔室。

著录项

  • 公开/公告号US5273783A

    专利类型

  • 公开/公告日1993-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON SEMICONDUCTOR INC.;

    申请/专利号US19930036619

  • 发明设计人 BRENDA D. WANNER;

    申请日1993-03-24

  • 分类号C23C16/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 04:32:30

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