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PLANAR ION IMPLANTED GAAS MESFET HAVING IMPROVED OPEN CHANNEL BURNOUT CHARACTERISTICS

机译:具有改善的开放式通道爆破特性的平面离子注入式GAAS介面

摘要

PURPOSE: To fabricate a planar MESFET excellent in open channel burnout characteristics while keeping the advantages of fabrication of planar device. ;CONSTITUTION: The planar MESFET comprises a source region 24, a drain region 19 and a channel region 22 formed on a substrate 29 and a protective region 18 is provided closely to the drain region. The protective region 18 functions to increase the breakdown voltage of a field effect transistor under open channel state.;COPYRIGHT: (C)1996,JPO
机译:目的:要制造一种具有优异的明渠燃尽特性的平面MESFET,同时保持制造平面器件的优势。组成:平面MESFET包括形成在衬底29上的源极区24,漏极区19和沟道区22,并且保护区18紧靠漏极区设置。保护区18的作用是在开放沟道状态下增加场效应晶体管的击穿电压。;版权所有:(C)1996,JPO

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