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Process of etching silicon nitride layer by using etching gas containing sulfur hexafluoride, hydrogen bromide and oxygen

机译:利用含六氟化硫,溴化氢和氧气的蚀刻气体蚀刻氮化硅层的工艺

摘要

A silicon nitride layer (13) on a silicon oxide layer (12) is selectively etched by using etching gas containing sulfur hexafluoride, hydrogen bromide and oxygen, and the hydrogen bromide is large enough in vapor pressure to maintain the composition of the etching gas without a heater.
机译:通过使用包含六氟化硫,溴化氢和氧的蚀刻气体选择性地蚀刻氧化硅层(12)上的氮化硅层(13),并且该溴化氢的蒸气压足够大以保持蚀刻气体的组成而不会加热器。

著录项

  • 公开/公告号EP0744767A2

    专利类型

  • 公开/公告日1996-11-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号EP19960108189

  • 发明设计人 TAKESHIRO SHINICHI;

    申请日1996-05-22

  • 分类号H01L21/311;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 03:21:06

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