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Process of etching silicon nitride layer by using etching gas containing sulfur hexafluoride, hydrogen bromide and oxygen

机译:利用含六氟化硫,溴化氢和氧气的蚀刻气体蚀刻氮化硅层的工艺

摘要

A silicon nitride layer on a silicon oxide layer is selectively etched by using etching gas containing sulfur hexafluoride, hydrogen bromide and oxygen, and the hydrogen bromide is large enough in vapor pressure to maintain the composition of the etching gas without a heater.
机译:通过使用包含六氟化硫,溴化氢和氧气的蚀刻气体选择性地蚀刻氧化硅层上的氮化硅层,并且该溴化氢的蒸气压足够大以在没有加热器的情况下保持蚀刻气体的成分。

著录项

  • 公开/公告号US5695602A

    专利类型

  • 公开/公告日1997-12-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号US19960650983

  • 发明设计人 SHINICHI TAKESHIRO;

    申请日1996-05-21

  • 分类号H01L21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 02:40:50

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