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Wafers with Notched Reference Points

机译:带缺口参考点的晶圆

摘要

A wafer having a notched reference point is disclosed. According to the present invention, in a wafer having a notched reference point for aligning the wafer, the notch has a V-shape having a rounded bottom face and a straight side thereof.
机译:公开了一种具有缺口参考点的晶片。根据本发明,在具有用于对准晶片的凹口基准点的晶片中,凹口具有V形,其具有圆形的底面和其笔直的侧面。

著录项

  • 公开/公告号KR19980068800A

    专利类型

  • 公开/公告日1998-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 김광호;

    申请/专利号KR19970005582

  • 发明设计人 김용진;

    申请日1997-02-24

  • 分类号H01L21/027;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 02:47:42

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