首页> 外国专利> Impurity diffusion treatment manner and semiconductor production device of semiconductor substrate

Impurity diffusion treatment manner and semiconductor production device of semiconductor substrate

机译:杂质扩散处理方式及半导体基板的半导体制造装置

摘要

Abstract Topic In the uniformity inside the surface of high impurity concentration improvingFrom, it improves the yield rate of semiconductor equipment. Solutions Inside pillar section 32 of quartz boat 3, horizontalityThe 0 - the 10 (vis-a-vis horizontal direction vis-a-vis the vertical of the surfaceWay the 80 - the 90) it possesses angle, the channel 32A facilitiesThe ke, interposing semiconductor substrate 2 from this channel 32A, the semiconductor basisRaising board 2, it supports.
机译:<摘要> <主题>在提高杂质浓度的表面内部的均匀性方面,它提高了半导体设备的良率。解决方案石英舟3的支柱部分32内部,水平度0-10(相对于水平方向,相对于表面的垂直方向80-90),它具有角度,通道32A设置为ke,插入半导体基板2从该通道32A支撑半导体基板上升板2。

著录项

  • 公开/公告号JP2928210B1

    专利类型

  • 公开/公告日1999-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KYUSHU NIPPON DENKI KK;

    申请/专利号JP19980019928

  • 发明设计人 IDE SHIGEAKI;

    申请日1998-01-30

  • 分类号H01L21/22;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 02:30:32

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号