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Scanning probe microscope assembly and method for making confocal, spectrophotometric, Near-Field, and Scanning probe measurements and associated images

机译:扫描探针显微镜组件以及用于进行共聚焦,分光光度,近场和扫描探针测量及相关图像的方法

摘要

A scanning probe microscope assembly and corresponding method for making confocal, spectrophotometric, near-field, and scanning probe measurements and forming associated images from the measurements.
机译:扫描探针显微镜组件和相应的方法,用于进行共焦,分光光度,近场和扫描探针测量,并根据这些测量结果形成相关图像。

著录项

  • 公开/公告号US6144028A

    专利类型

  • 公开/公告日2000-11-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GENERAL NANOTECHNOLOGY L.L.C.;

    申请/专利号US19970885014

  • 发明设计人 VIC B. KLEY;

    申请日1997-07-01

  • 分类号H01J31/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:35:46

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