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Solid phase epitaxial crystallization of amorphous silicon films on insulating substrates

机译:绝缘基板上非晶硅膜的固相外延结晶

摘要

There is described an epitaxial crystallization process comprising: a) providing a substrate (10) with an upper and lower surface, b) depositing a layer (14) of amorphous silicon on the upper surface of the substrate, c) depositing a capping seed layer (16) on the amorphous silicon layer, and d) annealing to crystallize the amorphous silicon layer (14). e) removing the capping seed layer (16). IMAGE
机译:描述了一种外延结晶工艺,该工艺包括:a)提供具有上表面和下表面的衬底(10),b)在衬底的上表面上沉积非晶硅层(14),c)沉积覆盖种子层(16)在非晶硅层上,和d)退火以使非晶硅层(14)结晶。 e)去除覆盖种子层(16)。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号EP0782178B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-09-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 XEROX CORP;

    申请/专利号EP19960309287

  • 发明设计人 HO JACKSON H.;KING TSU-JAE;

    申请日1996-12-19

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 01:17:03

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