首页> 外国专利> METHOD FOR PATTERNING CAVITIES AND ENHANCED CAVITY SHAPES FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

METHOD FOR PATTERNING CAVITIES AND ENHANCED CAVITY SHAPES FOR SEMICONDUCTOR DEVICES

机译:半导体器件的腔体成型和增强腔体形状的方法

摘要

A method of forming an opening within a surface of a semiconductor substrate while minimizing the effects of lithographic rounding. A semiconductor substrate is patterned using a first hard mask (152) with features aligned in a first direction and a second soft mask (164) with features aligned in a second direction. IMAGE
机译:一种在半导体衬底的表面内形成开口同时最小化光刻圆化的影响的方法。使用具有在第一方向上对准的特征的第一硬掩模(152)和具有在第二方向上对准的特征的第二软掩模(164)来图案化半导体衬底。 <图像>

著录项

  • 公开/公告号EP1099243A1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-05-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号EP19990927535

  • 发明设计人 ROBERTS CEREDIG;

    申请日1999-06-16

  • 分类号H01L21/033;H01L21/768;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 01:15:42

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号