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Illumination system for specified wavelengths used especially in EUV lithography includes raster-optical elements selected in number and form to predetermine uniformity of field illumination

机译:特别是在EUV光刻中使用的用于特定波长的照明系统包括光栅光学元件,其数量和形式选择为预定场照明的均匀性

摘要

The system produces predetermined light distribution in the exit pupil of the illumination system between light source and secondary light source or at the location of the secondary light sources. Number and/or form of the raster elements illuminated by the source producing the light distribution are so selected that predetermined uniformity of the field lighting in the object or reticular plane is achieved.
机译:该系统在光源和辅助光源之间或在辅助光源的位置处的照明系统的出射光瞳中产生预定的光分布。选择由产生光分布的源照射的光栅元件的数量和/或形式,使得在物体或网状平面中实现场照明的预定均匀性。

著录项

  • 公开/公告号DE19935568A1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FA. CARL ZEISS;

    申请/专利号DE19991035568

  • 发明设计人 SCHULTZ JOERG;

    申请日1999-07-30

  • 分类号G03F7/20;G02B19/00;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 01:10:21

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