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MOS transistor with high-K spacer designed for ultra-large-scale integration

机译:具有高K隔离层的MOS晶体管专为超大规模集成而设计

摘要

A MOS transistor having a source and drain extension that are less than 40 nanometers in thickness to minimize the short channel effect. A gate includes a high-K dielectric spacer layer to create depletion regions in the substrate which form the drain and source extensions.
机译:一种具有小于40纳米厚度的源极和漏极延伸部分的MOS晶体管,可最大程度地减少短沟道效应。栅极包括高K介电间隔层,以在衬底中形成耗尽区,形成耗尽区和源极延伸区。

著录项

  • 公开/公告号US6271563B1

    专利类型

  • 公开/公告日2001-08-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;

    申请/专利号US19980122815

  • 发明设计人 MING-REN LIN;BIN YU;

    申请日1998-07-27

  • 分类号H01L297/60;H01L299/40;H01L310/62;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 01:03:40

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