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ANALYTICAL SYSTEM USING FEM OPTIMUM ANALYSIS METHOD AND RECORDING MEDIUM

机译:有限元优化分析方法和记录介质的解析系统

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that action (the deformation of respective parts) and reaction (impact force) are wide apart from a real phenomenon when a positive analysis method is used for dynamic analysis, especially for the drop analysis of portable electronic equipment. SOLUTION: An optimum analysis method is selected and used for analysis by comparing an analytical time interval tex by the explicit method with an analytical time interval tim by the implicit method on the basis of the mesh size, Young's modulus and density of a model.
机译:要解决的问题:当使用正分析方法进行动态分析时,尤其是便携式电子产品的跌落分析时,要解决作用(各个零件的变形)和反作用(冲击力)与真实现象相去甚远的问题设备。解决方案:根据模型的网格大小,杨氏模量和密度,通过比较显式方法的分析时间间隔tex和隐式方法的分析时间间隔tim,选择一种最佳分析方法并将其用于分析。

著录项

  • 公开/公告号JP2002063220A

    专利类型

  • 公开/公告日2002-02-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORP;

    申请/专利号JP20000252544

  • 发明设计人 HIRATA ICHIRO;

    申请日2000-08-23

  • 分类号G06F17/50;G06F19/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 00:54:53

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