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DIELECTRIC FORMATION TO SEAL POROSITY OF ETCHED LOW DIELECTRIC CONSTANT MATERIALS

机译:形成的低介电常数材料的介电常数对密封孔隙率的影响

摘要

A method is provided, the method including forming a first dielectric layer above a first structure layer, and forming a first opening in the first dielectric layer, the first opening having sidewalls. The method also includes forming a second dielectric layer on the sidewalls of the first opening.
机译:提供了一种方法,该方法包括在第一结构层上方形成第一介电层,以及在第一介电层中形成第一开口,该第一开口具有侧壁。该方法还包括在第一开口的侧壁上形成第二介电层。

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