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OVERLAY VERNIER AND METHOD OF MAKING THE SAME

机译:叠加面及其制作方法

摘要

PURPOSE: A method for fabricating an overlay vernier is provided to control an overlay, by reducing errors in reading the overlay and by decreasing an overlay burden in a high density ion implantation process as an integration degree becomes higher. CONSTITUTION: A chrome layer is formed on a quartz substrate. The chrome layer is selectively patterned to form a light blocking layer(22a) of a square ring type. A predetermined width and depth of the quartz substrate between the light blocking layers is etched to form a trench of a square box type. A shifter layer(27) filled in the trench is formed.
机译:用途:提供一种用于制造覆盖游标的方法,以控制覆盖,其方法是:随着集成度的提高,在高密度离子注入工艺中通过减少读取覆盖的错误并通过减少覆盖负担来降低覆盖的负担。构成:在石英基板上形成铬层。铬层被选择性地构图以形成方环型的遮光层(22a)。蚀刻光阻挡层之间的石英基板的预定宽度和深度,以形成方盒型沟槽。形成填充在沟槽中的移位器层(27)。

著录项

  • 公开/公告号KR20020034310A

    专利类型

  • 公开/公告日2002-05-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC.;

    申请/专利号KR20000064434

  • 发明设计人 LEE HUI MOK;

    申请日2000-10-31

  • 分类号H01L21/027;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 00:31:04

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