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Method for separating semiconductor chips from wafer, involves initially scribing separation lines on wafer by laser beam

机译:从晶片分离半导体芯片的方法,包括首先通过激光束在晶片上划刻分离线

摘要

A method for separating semiconductor chips from a wafer, involves scribing in a first step along given separation lines on the wafer by laser beam, and in a second step the wafer is divided into semiconductor chips in an ultra-sound bath.
机译:一种用于从晶片上分离半导体芯片的方法,包括在第一步中通过激光束沿着晶片上的给定分离线划线,并且在第二步中将晶片在超声浴中分成半导体芯片。

著录项

  • 公开/公告号DE10031524A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-01-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE2000131524

  • 发明设计人 MIO HANNES;BRANDSTAETTER MATHIAS;

    申请日2000-06-28

  • 分类号H01L21/301;H01L21/78;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 00:27:41

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