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Forming contacts in ICs involves chemically-mechanically polishing structure resulting from applying mask layer, forming opening, etching contact hole, applying liner, contact material

机译:在IC中形成接触涉及通过施加掩模层,形成开口,蚀刻接触孔,施加衬垫,接触材料而产生的化学机械抛光结构

摘要

The method involves producing a substrate (10) with insulating layer (15), providing a hard mask layer (20), structuring an opening in the mask layer according to the contact to be formed, optionally providing a spacer layer (40) in the opening, etching a contact hole using the opening, applying a liner coating (50), applying a contact material (60) so as to fill the contact hole and chemically-mechanically polishing the resulting structure.
机译:该方法包括制造具有绝缘层(15)的衬底(10),提供硬掩模层(20),根据要形成的接触在掩模层中构造开口,可选地在衬底中提供隔离层(40)。开口,使用该开口蚀刻接触孔,施加衬里涂层(50),施加接触材料(60),以填充接触孔并化学机械抛光所得结构。

著录项

  • 公开/公告号DE10053467A1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-05-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE2000153467

  • 发明设计人 WEGE STEPHAN;ROGALLI MICHAEL;LAHNOR PETER;

    申请日2000-10-27

  • 分类号H01L21/283;H01L21/768;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 00:27:21

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