要解决的问题:通过减少诸如裂纹,半导体芯片的碎裂之类的故障的发生来制造高质量的半导体器件,同时抑制半导体器件的制造良率的下降。 。
解决方案:剥离机构,其剥离粘附在单个半导体晶片1上的胶带24,该晶片通过利用在至少两个吸附区域2-1至2-7中分离的多孔材料2的吸附而通过吸附固定晶片1。带24的剥离方向。由于能够通过吸附根据带24的剥离位置有效地固定半导体晶片1,因此能够防止在带24的剥离时产生的半导体芯片的破裂或碎裂。
版权:(C)2003,日本特许厅
公开/公告号JP2003179126A
专利类型
公开/公告日2003-06-27
原文格式PDF
申请/专利权人 TOSHIBA CORP;
申请/专利号JP20020271536
申请日2002-09-18
分类号H01L21/68;H01L21/301;H01L21/52;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 00:16:58