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Method for via etching in organo-silica-glass

机译:有机硅玻璃中通孔刻蚀的方法

摘要

According to one embodiment of the invention, a method for via etching in a dielectric material includes providing a wafer (200) having a substrate (202), an etch stop layer (210) disposed outwardly from the substrate, an Organo-Silica-Glass layer (212) disposed outwardly from the etch stop layer (210), and a photoresist layer (216) disposed outwardly from the Organo-Silica-Glass layer (212), and positioning the wafer (200) within a process chamber (114). The method further includes introducing a first source gas mixture (110) into the process chamber (114) to etch a first portion of the Organo-Silica-Glass layer (212) utilizing the first source gas mixture (110), and introducing a second source gas mixture (110) into the process chamber (114) to etch, for a predetermined time period, a second portion of the Organo-Silica-Glass layer (212) down to the etch stop layer (210). The second source gas mixture (110) includes a fluorocarbon, a noble gas, carbon monoxide, and nitrogen.
机译:根据本发明的一个实施例,一种用于在介电材料中进行通孔蚀刻的方法包括提供具有衬底( 202 )的晶片( 200 ),蚀刻停止层( 210 )从衬底向外放置,有机硅玻璃层( 212 )从蚀刻停止层( 210 )向外放置,从有机硅玻璃层( 212 )向外放置的光致抗蚀剂层( 216 ),并将晶片( 200 )定位在其中处理室( 114 )。该方法还包括将第一原料气体混合物( 110 )引入到处理室( 114 )中,以蚀刻有机硅玻璃层的第一部分( 212 )利用第一原料气混合物( 110 ),并将第二原料气混合物( 110 )引入处理室( 114 )以在预定时间段内蚀刻有机硅玻璃层的第二部分( 212 )到蚀刻停止层( 210 )。第二原料气体混合物( 110 )包括碳氟化合物,稀有气体,一氧化碳和氮气。

著录项

  • 公开/公告号US2003064601A1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 THOMPSON KEITH J.;

    申请/专利号US20020237371

  • 发明设计人 KEITH J. THOMPSON;

    申请日2002-09-09

  • 分类号H01L21/302;H01L21/461;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:08:59

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