机译:半导体集成电路包,具有多个半导体集成电路包的半导体装置,检查集成电路集成电路包的方法以及制造半导体集成方法
公开/公告号US6531769B2
专利类型
公开/公告日2003-03-11
原文格式PDF
申请/专利权人 OKI ELECTRIC INDUSTRY CO. LTD.;
申请/专利号US19990283181
发明设计人 TADASHI YAMAGUCHI;
申请日1999-04-01
分类号H01L234/80;
国家 US
入库时间 2022-08-22 00:06:59