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Plasma etching process for metals and metal oxides, including metals and metal oxides inert to oxidation

机译:金属和金属氧化物的等离子蚀刻工艺,包括对氧化呈惰性的金属和金属氧化物

摘要

A method of etching a metal or metal oxide, including a platinum family metal or a platinum family metal oxide. A wafer is first provided which comprises: (a) a semiconductor substrate, (b) a metal or metal oxide layer over the semiconductor substrate, and (c) a titanium containing patterned mask layer having one or more apertures formed therein positioned over the metal or metal oxide layer. The metal or metal oxide is then etched through the apertures in the mask layer by a plasma etching step that uses plasma source gases comprising the following: (a) a gas that comprises one or more carbon-oxygen bonds (for example, CO gas or CO2 gas) and (b) a gas that comprises one or more chlorine atoms (for example, Cl2 gas, carbon tetrachloride gas, silicon tetrachloride gas or boron trichloride gas).
机译:一种蚀刻金属或金属氧化物的方法,包括铂族金属或铂族金属氧化物。首先提供一种晶片,该晶片包括:(a)半导体衬底,(b)半导体衬底上的金属或金属氧化物层,以及(c)含钛的图案化掩模层,该掩模层中形成有一个或多个位于金属上方的孔或金属氧化物层。然后,通过使用包括以下物质的等离子体源气体的等离子体蚀刻步骤,通过掩模层中的孔蚀刻金属或金属氧化物:(a)包含一个或多个碳-氧键的气体(例如,CO气体或CO 2 气体)和(b)包含一个或多个氯原子的气体(例如Cl 2 气体,四氯化碳气体,四氯化硅气体或三氯化硼气体)。

著录项

  • 公开/公告号US6541380B2

    专利类型

  • 公开/公告日2003-04-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 APPLIED MATERIALS INC.;

    申请/专利号US20010912579

  • 发明设计人 CHENTSAU YING;JENG H. HWANG;

    申请日2001-07-24

  • 分类号H01L213/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:05:07

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