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Enhancem ent of the surface and bonding characteristics of Aluminum nitride (AlN) thin film

机译:增强氮化铝(AlN)薄膜的表面和结合特性

摘要

Production of an aluminum nitride thin layer comprises subjecting the thin layer to a microwave plasma after is has been deposited. Preferred Features: The plasma treatment is carried out using a chemically reactive gas selected from gaseous nitrogen, hydrogen and ammonia. The gas acts to accelerate ions onto the thin layer to achieve an etching effect. The gas may be argon, helium, neon, krypton or xenon.
机译:氮化铝薄层的生产包括在已经沉积该薄层之后对其进行微波等离子体处理。优选特征:使用选自气态氮,氢和氨的化学反应性气体进行等离子体处理。气体起到将离子加速到薄层上的作用,以实现蚀刻效果。气体可以是氩气,氦气,氖气,k气或氙气。

著录项

  • 公开/公告号KR100372750B1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-02-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR19990048652

  • 发明设计人 이재영;조민희;김해열;강윤선;

    申请日1999-11-04

  • 分类号H01L21/321;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 23:45:38

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