首页> 外国专利> Filling vertically-channeled structures during manufacture of semiconductor components, employs stages of introduction with intervening barrier formation

Filling vertically-channeled structures during manufacture of semiconductor components, employs stages of introduction with intervening barrier formation

机译:在半导体组件制造过程中填充垂直通道结构,采用引入阶段并形成势垒

摘要

The filling material is introduced homogeneously into the trenches (1,2,3) in successive stages (I, III). Between these layer (15,16) -forming stages, a further stage (II) forms a barrier (11).
机译:在连续的阶段(I,III)中将填充材料均匀地引入到沟槽(1,2,3)中。在这些层(15,16)形成阶段之间,另一阶段(II)形成阻挡层(11)。

著录项

  • 公开/公告号DE10208787A1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-09-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE2002108787

  • 申请日2002-02-28

  • 分类号H01L21/74;H01L21/8234;H01L21/8242;H01L21/8249;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 23:42:13

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号