要解决的问题:准确快速地确定背景计数率。解决方案:该估计背景计数率的方法包括:观察过程S3,用于实际测量背景(BG)计数率并确定BG计数率的观察值;第一仿真过程S4,用于通过在放射线检测器和屏蔽体的虚拟三维模型中生成通过屏蔽体传输的虚拟辐射以将其作为BG来确定伪BG计数率;第二模拟过程S5,用于通过在要测量的对象,放射线检测器和遮蔽体的虚拟三维模型中生成通过遮蔽体透射的虚拟辐射作为BG来确定伪BG计数率;校正系数计算处理S6,用于基于在第一模拟处理和第二模拟处理中确定的BG计数率来确定校正系数;校正处理S7,用于通过使用校正系数来校正观测值。在第一和第二仿真过程S4和S5中,从屏蔽体的虚拟三维模型内部生成虚拟辐射。
版权:(C)2004,日本特许厅和日本国家唱片公司
公开/公告号JP2004245649A
专利类型
公开/公告日2004-09-02
原文格式PDF
申请/专利号JP20030034005
申请日2003-02-12
分类号G01T1/167;G01T1/17;G21C17/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 23:31:50