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Vertical JFET limited silicon carbide power metal-oxide semiconductor field effect transistors and methods of fabricating vertical JFET limited silicon carbide metal- oxide semiconductor field effect transistors

机译:垂直JFET限制碳化硅功率金属氧化物半导体场效应晶体管和制造垂直JFET限制碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管的方法

摘要

Silicon carbide metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs) may include an n-type silicon carbide drift layer, a first p-type silicon carbide region adjacent the drift layer and having a first n-type silicon carbide region therein, an oxide layer on the drift layer, and an n-type silicon carbide limiting region disposed between the drift layer and a portion of the first p-type region. The limiting region may have a carrier concentration that is greater than the carrier concentration of the drift layer. Methods of fabricating silicon carbide MOSFET devices are also provided.
机译:碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)可以包括n型碳化硅漂移层,与漂移层相邻并在其中具有第一n型碳化硅区域的第一p型碳化硅区域,氧化物层在漂移层上形成有n型碳化硅限制区,该n型碳化硅限制区设置在漂移层和第一p型区的一部分之间。限制区域的载流子浓度可以大于漂移层的载流子浓度。还提供了制造碳化硅MOSFET器件的方法。

著录项

  • 公开/公告号US2004119076A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RYU SEI-HYUNG;

    申请/专利号US20030698170

  • 发明设计人 SEI-HYUNG RYU;

    申请日2003-10-30

  • 分类号H01L31/0312;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:20:37

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