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METHOD FOR FORMING STORAGE NODE OF CAPACITOR

机译:电容器的存储节点的形成方法

摘要

An improved method of manufacturing a capacitor on a semiconductor substrate is disclosed. A portion of an insulation film on a semiconductor substrate is etched to form a first opening in the insulation film. A passivation film is formed on the insulation film and within the first opening thereof. A portion of the passivation film on a bottom of the first opening is thinner than portions of the passivation film on the insulation film and on a sidewall of the first opening. The passivation film is etched to expose the bottom of the first opening.
机译:公开了一种在半导体衬底上制造电容器的改进方法。蚀刻半导体衬底上的绝缘膜的一部分,以在绝缘膜中形成第一开口。钝化膜形成在绝缘膜上并且在其第一开口内。钝化膜在第一开口的底部上的一部分比钝化膜在绝缘膜上和在第一开口的侧壁上的一部分薄。蚀刻钝化膜以暴露第一开口的底部。

著录项

  • 公开/公告号KR100443127B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20020054003

  • 发明设计人 홍준식;안태혁;홍종서;홍영기;

    申请日2002-09-07

  • 分类号H01L21/8242;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 22:46:50

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