机译:激光绘图设备,激光绘图方法和制造光掩模的方法
要解决的问题:为了提供一种激光绘图设备,即使对于在其表面上形成有抗蚀剂膜(感光树脂膜)的大型曝光对象(例如大型光掩模),生产率也不会降低,最佳的曝光光即使抗蚀剂膜的厚度在微小区域变化,也可以设定该量,即使对于包括精细图案的拉伸图案,也不受膜厚变化的影响而进行良好的拉伸。
解决方案:激光绘图设备配备有:绘图头1,用于向曝光对象101照射曝光光束;扫描装置5,使曝光对象物101上的曝光光束R的照射位置移动。膜厚测量装置24,基于曝光对象101对曝光光束R的反射光束,测量抗蚀剂膜102的厚度。调制装置4基于预定的绘制图案和由膜厚测量装置24获得的测量结果来调制曝光光束的强度。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2005292271A
专利类型
公开/公告日2005-10-20
原文格式PDF
申请/专利权人 HOYA CORP;
申请/专利号JP20040104082
发明设计人 TAZOE TAKAHISA;
申请日2004-03-31
分类号G03F7/20;G03F1/08;H01L21/027;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:37:21