要解决的问题:提供一种膜厚测量装置,用于可靠且准确地测量待测物体中的透光涂层的膜厚,从而在无接触且无破坏的细粉上形成透光膜。以及用于执行该膜厚测量装置的膜厚测量装置。
解决方案:来自物镜的光源发出的光谱光,具有所需的波长范围,被物镜通过限制照明区域的显微镜光学系统会聚;使会聚的光垂直入射在透光性涂膜上。透射光的涂膜的表面反射的反射光和相互干涉的细粉的表面,在使聚光的焦点位置从玻璃的表面带回的条件下,返回到显微镜光学系统。透光性涂膜至细粉的表面;反射光通过光纤引入光谱装置以进行检测的光传输,然后以300nm或更长的波长宽度(包括可见区域)进行分散。计算提供光谱强度的最大值和最小值和可透射涂膜的发光膜厚度的每个波长。
版权:(C)2005,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2004361382A
专利类型
公开/公告日2004-12-24
原文格式PDF
申请/专利权人 RICOH CO LTD;
申请/专利号JP20030388929
发明设计人 TOMOTA MITSUHIRO;
申请日2003-11-19
分类号G01B11/02;G03G9/113;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 22:29:44