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Function variable type cell and semiconductor integrated circuit and its design system

机译:功能可变型单元和半导体集成电路及其设计系统

摘要

PPROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor integrated circuit capable of corresponding to specification change and bug correction after the semiconductor integrated circuit is manufactured. PSOLUTION: Standard cells 101 used in a cell base IC and function variable cells 102 are mounted on the semiconductor integrated circuit. A function variable cell 102 is provided with a means for controlling at least one among function change, function stopping and function activation with a control signal inside the semiconductor integrated circuit or a control signal given to the semiconductor integrated circuit from the outside. PCOPYRIGHT: (C)2004,JPO
机译:

要解决的问题:提供一种能够在制造半导体集成电路之后对应于规格改变和缺陷校正的半导体集成电路。

解决方案:单元基体IC中使用的标准单元101和功能可变单元102安装在半导体集成电路上。功能可变单元102设置有用于通过半导体集成电路内部的控制信号或从外部提供给半导体集成电路的控制信号来控制功能改变,功能停止和功能激活中的至少一个的装置。

版权:(C)2004,日本特许厅

著录项

  • 公开/公告号JP3654259B2

    专利类型

  • 公开/公告日2005-06-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本電気株式会社;

    申请/专利号JP20020111144

  • 发明设计人 水野 正之;

    申请日2002-04-12

  • 分类号H03K19/173;G06F17/50;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 22:27:29

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