机译:半导体放射线检测器,正电子放射断层摄影装置,半导体放射线检测装置,检测器单元以及核医学诊断装置
公开/公告号EP1521100A2
专利类型
公开/公告日2005-04-06
原文格式PDF
申请/专利权人 HITACHI LTD.;
申请/专利号EP20040014994
发明设计人 KITAGUCHI HIROSHI C/O HITACHI LTD.;YANAGITA NORIHITO C/O HITACHI LTD.;AMEMIYA KENSUKE C/O HITACHI LTD.;YOKOMIZO OSAMU C/O HITACHI LTD.;YOKOI KAZUMA C/O HITACHI LTD.;UENO YUUICHIROU C/O HITACHI LTD.;TSUCHIYA KATSUTOSHI C/O HITACHI LTD.;KOJIMA SHINICHI C/O HITACHI LTD.;
申请日2004-06-25
分类号G01T1/24;G01T1/29;
国家 EP
入库时间 2022-08-21 22:07:53