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机译:CMP设备的抛光垫可防止沉积在抛光垫上的凹槽中产生异物,如浆液
公开/公告号KR20050006644A
专利类型
公开/公告日2005-01-17
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;
申请/专利号KR20030046532
发明设计人 LEE DONG JUN;SO JAE HYUN;KANG KYOUNG MOON;LIM YOUNG SAM;KIM NAM SOO;
申请日2003-07-09
分类号H01L21/304;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 22:05:59
机译: 研磨垫表面形状测定装置,研磨垫表面形状测定装置的使用,研磨垫的锥顶角的测定方法,研磨垫的槽深度测定方法,CMP研磨装置及其制造方法半导体器件
机译: 研磨垫表面形状测定装置,研磨垫表面形状测定装置的使用方法,研磨垫的锥顶角的测定方法,研磨垫的槽深的测定方法,CMP研磨装置及其制造方法半导体器件
机译: 用预先确定的沟槽图案对抛光垫进行抛光,以改善CMP设备中抛光的均匀性并减少淤浆的消耗