机译:用于测试信号处理装置的装置及其测试方法,特别是用于通过消除用于电容器放电的待机时间来缩短测试时间的装置
公开/公告号KR20050015200A
专利类型
公开/公告日2005-02-21
原文格式PDF
申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;
申请/专利号KR20030053909
发明设计人 LEE SANG HYEON;
申请日2003-08-04
分类号G01R31/00;
国家 KR
入库时间 2022-08-21 22:05:53