要解决的问题:通过预测将来的质量特征值以识别异常并调整设备的错误来防止缺陷的发生。
解决方案:记录过去的测量数据,并从记录的特性值中选择实际预测的质量特性值和估计与质量特性值相关的状态特性值的组合。将所选择的测量数据提供给多个预测模型,以从这些预测模型中确定最佳预测模型,并且呈现与预测精度相对应的信息。将过去的测量数据和顺序更新的当前的测量数据提供给最佳预测模型,以预测将来的质量特征值。
版权:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006252465A
专利类型
公开/公告日2006-09-21
原文格式PDF
申请/专利权人 OMRON CORP;
申请/专利号JP20050071720
申请日2005-03-14
分类号G05B19/418;G06Q50;H01L21/02;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:56:04