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RADIATION INCIDENT POSITION DETECTOR, AND RADIATION INCIDENT POSITION DETECTING METHOD

机译:辐射事故位置检测器及辐射事故位置检测方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily and precisely identify an incident position, in a radiation incident position detector using a radiation detecting element.;SOLUTION: This radiation incident position detector has a semiconductor detecting element (the radiation detecting element) 4 arranged opposedly to a specimen 3, a preamplifier group 5 connected to a plurality of resistance wires arranged on a semiconductor detecting element 4 surface (detection face), the first signal-arithmetic-processing part 6 for identifying a position on the detection face through charge division in the resistance wires, the second signal-arithmetic-processing part 7 for identifying a position along a direction perpendicular to the detection face, and an incident position computing part 8 for calculating the radiation incident position in the detection face, based on the the first signal-arithmetic-processing part 6 and the second signal-arithmetic-processing part 7.;COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
机译:解决的问题:为了在使用放射线检测元件的放射线入射位置检测器中容易且精确地识别入射位置;解决方案:该放射线入射位置检测器具有与检测元件相对设置的半导体检测元件(放射线检测元件)4。样品3,连接到布置在半导体检测元件4表面(检测面)上的多条电阻线的前置放大器组5,第一信号算术处理部6,用于通过电阻中的电荷划分来识别检测面上的位置导线,第二信号算术处理部分7,用于识别沿垂直于检测面的方向的位置;以及入射位置计算部分8,用于基于第一信号算术来计算检测面中的辐射入射位置处理部分6和第二信号算术处理部分7;版权所有:(C)2006,JPO&NCIPI

著录项

  • 公开/公告号JP2006234661A

    专利类型

  • 公开/公告日2006-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOSHIBA CORP;

    申请/专利号JP20050051248

  • 发明设计人 ONODERA TORU;IZUMI MIKIO;NAITO SUSUMU;

    申请日2005-02-25

  • 分类号G01T1/29;G01T1/24;H04N5/32;H01L31/09;H01L27/14;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 21:53:33

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