公开/公告号CN108226988B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-29
原文格式PDF
申请/专利权人 浜松光子学株式会社;
申请/专利号CN201711395543.8
发明设计人 内田博;
申请日2017-12-21
分类号G01T1/20(20060101);G01T1/29(20060101);
代理机构11322 北京尚诚知识产权代理有限公司;
代理人杨琦;黄浩
地址 日本静冈县
入库时间 2022-08-23 12:03:17
机译: 用于在二维方向上检测放射线位置的半导体二维位置检测器和正电子断层摄影装置以及使用该二维二维位置检测器的放射线二维位置检测方法
机译: 放射线位置检测方法,放射线位置检测器及宠物装置
机译: 使用放射线的二维位置检测方法以及半导体检测器来检测放射线的二维位置