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Low-temperature plasma-enhanced chemical vapor deposition of silicon-nitrogen-containing films

机译:含硅氮薄膜的低温等离子体增强化学气相沉积

摘要

A method for low-temperature plasma-enhanced chemical vapor deposition of a silicon-nitrogen-containing film on a substrate. The method includes providing a substrate in a process chamber, exciting a reactant gas in a remote plasma source, thereafter mixing the excited reactant gas with a silazane precursor gas, and depositing a silicon-nitrogen-containing film on the substrate from the excited gas mixture in a chemical vapor deposition process. In one embodiment of the invention, the reactant gas can contain a nitrogen-containing gas to deposit a SiCNH film. In another embodiment of the invention, the reactant gas can contain an oxygen-containing gas to deposit a SiCNOH film.
机译:一种在基板上进行低温等离子体增强化学气相沉积含硅氮薄膜的方法。该方法包括在处理室中提供衬底,在远程等离子体源中激发反应气体,然后将激发的反应气体与硅氮烷前体气体混合,并从激发的气体混合物中在基板上沉积含硅氮的膜。在化学气相沉积过程中。在本发明的一个实施方案中,反应物气体可包含含氮气体以沉积SiCNH膜。在本发明的另一个实施方案中,反应气体可以包含含氧气体以沉积SiCNOH膜。

著录项

  • 公开/公告号US2006014399A1

    专利类型

  • 公开/公告日2006-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RAYMOND JOE;

    申请/专利号US20040891301

  • 发明设计人 RAYMOND JOE;

    申请日2004-07-14

  • 分类号H01L21/31;H01L21/469;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 21:45:16

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