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机译：测量置于低温等离子体中的元素的温度的方法
公开/公告号PL372914A1
专利类型
公开/公告日2006-08-21
原文格式PDF
申请/专利权人 AKADEMIA GORNICZO-HUTNICZA IM. STANISŁAWA STASZICA;
申请/专利号PL20050372914
发明设计人 MANIA RYSZARD;KONINACUTE;SKI STANISLSTROK;AW;GODLEWSKA ELZDOT;BIETA;
申请日2005-02-17
分类号G01K13/00;G01K7/02;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 21:37:52
机译： 用于测量元件的温度的瞬时的方法和装置，用于测量流体的流动的温度，导致该元件的接触
机译： 通过测量与该元素接触的流体流动的温度来即时测量元素的温度的方法和设备
机译： 产生低温等离子体的方法，利用该低温等离子体对液体，粉末和固体材料进行等离子体改性的方法以及实施这些方法的装置
