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机译:等离子刻蚀多晶硅层至SiO2刻蚀层的通道
公开/公告号FR2797715B1
专利类型
公开/公告日2006-08-25
原文格式PDF
申请/专利权人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION;
申请/专利号FR20000006683
发明设计人 PASCAL COSTAGANNA;
申请日2000-05-25
分类号H01L21/467;
国家 FR
入库时间 2022-08-21 21:17:41
机译: 增加关于多晶硅层的金属硅化物层的蚀刻选择比的方法以及用于蚀刻多晶硅层和金属硅化物层的堆叠层的方法
机译: 通过图案化的二氧化硅层对多晶硅层进行等离子蚀刻,以在半导体器件生产中形成垂直多晶硅线
机译: 沟槽晶体管的制造方法,涉及氧化和蚀刻多晶硅层的顶部并协调多晶硅层的深度和氧化,以使残留的多晶硅层相对于接触层被氧化