要解决的问题:提供一种能够通过使X射线源和检测器沿简单的圆形轨迹移动而获得出色的全景图像的X射线测量装置,X射线测量方法和X-射线射线测量程序。
解决方案:X射线源3和检测器4彼此面对。控制处理器8针对在检查对象上设置的空间中位于对象的轨迹上的多个考虑点分别计算轨迹的法线,并计算与考虑点相对应的X射线源3的位置基于所计算的法线,在轨迹上将多个X射线源3的各个位置设置在与考虑中的点相对应的X射线源3的位置附近,并且对于从检测器4获取的数据在以下情况下进行设置:在面向X射线源3的设置位置的位置处,通过从数据中提取法线穿过的指定部分来获取断层图像,并且通过将获取到的断层图像粘贴在一起来生成第一全景图像。所考虑点的位置。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2007159635A
专利类型
公开/公告日2007-06-28
原文格式PDF
申请/专利权人 HITACHI MEDICAL CORP;
申请/专利号JP20050356342
发明设计人 UEDA TAKESHI;BABA RIKA;
申请日2005-12-09
分类号A61B6/14;G06T1/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:14:01