• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 外国专利> device and method for measuring offset and examination of a numerically controlled werkzeugskopfes and / or table

device and method for measuring offset and examination of a numerically controlled werkzeugskopfes and / or table

机译：测量偏移量和检查数控机床和/或工作台的装置和方法

页面导航
  • 著录项
  • 相似文献

摘要

机译：

著录项

  • 公开/公告号AT367239T

    专利类型

  • 公开/公告日2007-08-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FIDIA S.P.A.;

    申请/专利号AT20030758659T

  • 发明设计人 MORFINO GIUSEPPE;

    申请日2003-09-19

  • 分类号B23Q17/00;G05B19/401;

  • 国家 AT

  • 入库时间 2022-08-21 20:55:03

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号