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ACID-FREE CLEANING PROCESS FOR SUBSTRATES, IN PARTICULAR MASKS AND MASK BLANKS

机译:基材(特别是面膜和面膜毛坯)的无酸清洁过程

摘要

This invention includes processes that employ alkaline-based compositions with varying pH values and conductivities for use in surface preparation steps of substrate surfaces, such as quartz, particularly those used for photomask applications. Controlling pH values is an aspect of the invention in quartz surface cleaning, i.e., maintaining a higher pH value of the first chemical mixture than of the second chemical mixture yields higher particle removal efficiency compared to going from lower pH to higher pH. Preferably, the inventive process is an acid-free process.
机译:本发明包括使用具有变化的pH值和电导率的基于碱性的组合物的方法,该方法用于基材表面例如石英的表面制备步骤中,特别是用于光掩模应用的那些。控制pH值是本发明在石英表面清洁中的一个方面,即,与从较低的pH变为较高的pH相比,保持第一化学混合物的pH值高于第二化学混合物的pH值会产生更高的颗粒去除效率。优选地,本发明方法是无酸方法。

著录项

  • 公开/公告号KR20070044383A

    专利类型

  • 公开/公告日2007-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SCHOTT AG;

    申请/专利号KR20060103432

  • 申请日2006-10-24

  • 分类号B08B3/08;B08B3/02;B08B3/10;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:35:23

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