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SELF-ALIGNED FABRICATION TECHNIQUE FOR TRI-TONE ATTENUATED PHASE-SHIFTING MASKS

机译:三色衰减移相膜的自对准制备技术

摘要

Triple-tone attenuated phase-shift is provided a structure and method to ensure the production of a self-aligned mask. Phase 0 °, the rim having a resolution greater than 90% transmittance are provided along the non-transparent area. This portion having the opaque and attenuated regions of the mask-resolution alignment of the rim is carried out in a single patterning step. In one embodiment, the opaque area is a narrow portion having a larger transmittance than the 0 ° phase, 90% - can be replaced by line resolution.
机译:提供了三色调衰减的相移,以确保产生自对准掩模的结构和方法。沿非透明区域提供了相位0°(分辨率大于90%透射率的边沿)。具有边缘的掩模分辨率对准的不透明和衰减区域的该部分在单个图案化步骤中进行。在一个实施例中,不透明区域是具有比0°相更大的透射率的狭窄部分,90%-可以由线分辨率代替。

著录项

  • 公开/公告号KR100678815B1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-02-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20037012112

  • 发明设计人 삐에라뜨크리스토프;

    申请日2003-09-16

  • 分类号G03F9/00;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 20:33:02

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