首页> 外国专利> SELF-ALIGNED FABRICATION TECHNIQUE FOR TRI-TONE ATTENUATED PHASE-SHIFTING MASKS

SELF-ALIGNED FABRICATION TECHNIQUE FOR TRI-TONE ATTENUATED PHASE-SHIFTING MASKS

机译:三色衰减移相膜的自对准制备技术

摘要

A structure and method are provided to ensure self-aligned fabrication of a tri-tone attenuated phase-shifting mask. A sub-resolution, 0 degree phase, greater than 90% transmission rim is provided along the edge of an opaque region. The alignment of this sub-resolution rim with the opaque and attenuated regions of the mask is performed in a single patterning step. In one embodiment, a narrow opaque region can be replaced by a sub-resolution, 0 degree phase, greater than 90 % transmission line.
机译:提供了一种结构和方法,以确保三音衰减的相移掩模的自对准制造。沿着不透明区域的边缘提供大于90%传输边缘的亚分辨率,0度相位。该亚分辨率边缘与掩模的不透明和衰减区域的对准在单个图案化步骤中执行。在一个实施例中,狭窄的不透明区域可以由亚分辨率,0度相位,大于90%的传输线代替。

著录项

  • 公开/公告号EP1368708B1

    专利类型

  • 公开/公告日2009-09-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SYNOPSYS INC;

    申请/专利号EP20020736492

  • 发明设计人 PIERRAT CHRISTOPHE;

    申请日2002-02-26

  • 分类号G03F1/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 19:19:02

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号