首页> 外国专利> Treating material in production of semiconductor components comprises implanting partial region of material with ions and etching material using etching rate which is changed by implanted ions

Treating material in production of semiconductor components comprises implanting partial region of material with ions and etching material using etching rate which is changed by implanted ions

机译:在半导体组件生产中处理材料包括:用离子注入材料的部分区域,并使用随注入离子而改变的蚀刻速率来蚀刻材料。

摘要

Treating material in the production of semiconductor components comprises implanting a partial region (1) of the material (10) with ions (2) and etching the material using an etching rate which is changed by the implanted ions.
机译:在半导体组件的生产中处理材料包括:向材料(10)的部分区域(1)注入离子(2),并使用随注入离子而改变的蚀刻速率来蚀刻材料。

著录项

  • 公开/公告号DE102005057407A1

    专利类型

  • 公开/公告日2007-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;

    申请/专利号DE20051057407

  • 发明设计人 WEGE STEPHAN;SCHLOR JOACHIM;

    申请日2005-11-30

  • 分类号H01L21/265;H01L21/306;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 20:29:37

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号