要解决的问题:提供一种能够提高电路分析的分析速度的电路分析方法,一种电路分析程序以及一种电路仿真装置。解决方案:电路仿真装置10包括:分析选择部223,其选择直接法和重复法中的任一种作为与分析对象电路的电路方程相对应的系数矩阵的解确定方法。分析处理部分224和225通过选择的解确定方法找到系数矩阵的解。
版权:(C)2008,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2008015841A
专利类型
公开/公告日2008-01-24
原文格式PDF
申请/专利权人 NEC ELECTRONICS CORP;
申请/专利号JP20060187136
发明设计人 KUWATA KIMIHIKO;
申请日2006-07-06
分类号G06F17/50;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 20:22:16