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CIRCUIT ANALYSIS METHOD, CIRCUIT ANALYSIS PROGRAM, CIRCUIT SIMULATION DEVICE

机译:电路分析方法,电路分析程序,电路仿真装置

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a circuit analysis method, circuit analysis program, and circuit simulation device capable of accurately calculating the delay time of a signal in a circuit to be measured.;SOLUTION: The circuit simulation device 10 comprises a circuit equation creating section 221 for creating a circuit equation 102 based on a net list 101, a circuit equation calculating section 222 for determining the solution of the circuit equation 102 at an analysis time (t), and a time step estimating type selecting section 223 for selecting, as the next time width, one of a first time width 105 calculated using the solution and a fixed second time width 23 as the time width. The circuit equation calculating section 222 determines the solution of the circuit equation 102 at the next analysis time using the selected next time width.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:提供一种电路分析方法,电路分析程序和电路仿真装置,其能够准确地计算待测电路中信号的延迟时间。解决方案:电路仿真装置10包括创建电路方程式基于网络列表101创建电路方程式102的部分221,用于在分析时间(t)确定电路方程式102的解的电路方程式计算部分222,以及用于选择的时步估计类型选择部分223,作为下一时间宽度,使用解计算的第一时间宽度105和固定的第二时间宽度23中的一个作为时间宽度。电路式计算部222使用所选择的下一个时间宽度来确定下一个分析时间的电路式102的解。COPYRIGHT:(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP2007328386A

    专利类型

  • 公开/公告日2007-12-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC ELECTRONICS CORP;

    申请/专利号JP20060156784

  • 发明设计人 OTA HIROSHI;

    申请日2006-06-06

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 20:22:02

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