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Method and apparatus for a low noise JFET device on a standard CMOS process

机译:用于在标准CMOS工艺上的低噪声JFET器件的方法和设备

摘要

A microelectric product and the method for manufacturing the product are provided. A source and drain are spaced from one another in a first direction and are connected to opposing ends of a channel to provide a set voltage. First and second gates are spaced from one another in a second direction surrounding a portion of the channel to allow for application and removal of a gate voltage. Application of the gate voltage repels majority carriers in the channel to reduce the current that conducts between the source and drain.
机译:提供了一种微电产品及其制造方法。源极和漏极在第一方向上彼此间隔开,并且连接到沟道的相对端以提供设定电压。第一和第二栅极在围绕沟道的一部分的第二方向上彼此间隔开,以允许施加和去除栅极电压。施加栅极电压会排斥沟道中的多数载流子,以减少在源极和漏极之间传导的电流。

著录项

  • 公开/公告号US7378688B1

    专利类型

  • 公开/公告日2008-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DOMINIK J. SCHMIDT;

    申请/专利号US20060618598

  • 发明设计人 DOMINIK J. SCHMIDT;

    申请日2006-12-29

  • 分类号H01L29/74;H01L31/111;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 20:10:59

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