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APPARATUS AND METHOD FOR ULTRA-SHALLOW IMPLANTATION IN A SEMICONDUCTOR DEVICE

机译:用于半导体装置中的超浅注入的装置和方法

摘要

Methods and devices for forming an ultra-thin doping layer in a semiconductor substrate include introducing a thin film of a dopant onto a surface of the substrate and driving at least a portion of the thin dopant layer into a surface of the semiconductor. Gas ions used in the driving-in process may be inert to minimize contamination during the drive in process. The thin films can be deposited using know methods, such as physical deposition and atomic layer deposition. The dopant layers can be driven into the surface of the semiconductor using known techniques, such as pulsed plasma discharge and ion beam. In some embodiments, a standard ion implanter can be retrofit to include a deposition source.
机译:在半导体衬底中形成超薄掺杂层的方法和装置包括将掺杂剂的薄膜引入到衬底的表面上并将薄掺杂剂层的至少一部分驱动到半导体的表面中。推进过程中使用的气体离子可能是惰性的,以最大程度地减少推进过程中的污染。可以使用已知方法沉积薄膜,例如物理沉积和原子层沉积。可以使用诸如脉冲等离子体放电和离子束的已知技术将掺杂剂层驱动到半导体的表面中。在一些实施例中,可以对标准离子注入机进行改造以包括沉积源。

著录项

  • 公开/公告号WO2008021501A2

    专利类型

  • 公开/公告日2008-02-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SFERLAZZO PIERO;

    申请/专利号WO2007US18273

  • 发明设计人 SFERLAZZO PIERO;

    申请日2007-08-17

  • 分类号H01L21/00;H01L21/31;H01L21/425;H01L23/58;

  • 国家 WO

  • 入库时间 2022-08-21 20:00:59

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