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The computer and the x-ray analysis section and this x-ray analysis section which control the electron microscope

机译:控制电子显微镜的计算机和X射线分析部分以及该X射线分析部分

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To preserve, automatically as image data, an analytical position of a sample where spectrum data measured by an X-ray analytical device are measured. SOLUTION: This device 1 comprises an electron microscope 4 for outputting an electron microscope image of an analytical object sample S, an X-ray analysis part 6, and computers 5, 7 for controlling these instruments, and is so composed that the electron microscope image obtained by the electron microscope 4 and an X-ray spectrum obtained by the X-ray analysis part 6 can be taken in the computers 5, 7. In this case, image data Db for showing the electron microscope image and spectrum data Ds of an X-ray generated from a prescribed analytical position on the electron microscope image can be preserved by one-time operation in one recording medium (for example, a removable disc such as MO) installed in the computer 7, where the computers 5, 7 can read or write.
机译:解决的问题:要自动将样品的分析位置保存为图像数据,并在其中测量X射线分析仪测量的光谱数据。解决方案:该设备1包括用于输出分析对象样品S的电子显微镜图像的电子显微镜4,X射线分析部件6和用于控制这些仪器的计算机5、7,其组成使得电子显微镜图像可以在计算机5、7中获取由电子显微镜4获得的X射线和由X射线分析部件6获得的X射线光谱。在这种情况下,用于显示电子显微镜图像的图像数据Db和由X射线分析部件6获得的X射线光谱可以由计算机5获取。从电子显微镜图像上的规定分析位置产生的X射线可以通过一次操作保存在安装在计算机7中的一种记录介质(例如,诸如MO的可移动盘)中,其中计算机5、7可以读或写。

著录项

  • 公开/公告号JP4246840B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社堀場製作所;

    申请/专利号JP19990095686

  • 发明设计人 万木 利和;佐藤 義通;

    申请日1999-04-02

  • 分类号G01N23/225;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 19:38:10

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