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Parameter extraction method, method for inspecting circuit operation, and storage medium having program to perform the parameter extraction method

机译:参数提取方法,检查电路操作的方法以及具有执行该参数提取方法的程序的存储介质

摘要

A structure includes a step of inputting a numerical value of a parameter, which forms a model formula, by a computer; a step of inputting the numerical value of the parameter to the model formula and calculating a calculation value by the computer; and a step of evaluating degree of a match between an actual measurement value and the calculation value by the computer with an input/output response of an actual device assumed as the actual measurement value, in which the degree of the match is evaluated by a numerical value corresponding to an area of a portion sandwiched between a connecting line of the actual measurement value and a connecting line of the calculation value.
机译:一种结构,包括通过计算机输入形成模型公式的参数的数值的步骤;以及将参数的数值输入模型公式并通过计算机计算计算值的步骤;通过计算机以实际设备的输入/输出响应作为实际测量值来评估实际测量值与计算值之间的匹配程度的步骤,其中,通过数字来评估匹配程度该值对应于夹在实际测量值的连接线和计算值的连接线之间的部分的面积。

著录项

  • 公开/公告号US7617056B2

    专利类型

  • 公开/公告日2009-11-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSURO SEKI;

    申请/专利号US20060644595

  • 发明设计人 MITSURO SEKI;

    申请日2006-12-21

  • 分类号G06F3;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 19:30:22

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